扁平足是最常见的足部畸形之一。

扁平足的常见测量方式有如下这几个：

1、湿脚印法。

这个方法很简单，就是通过脚底踩水，在白纸或者地面上进行走动，然后看足印的形态。

正常足：足印中间明显狭长空缺。

扁平足：足印中间几乎完全相连，一看就是明显的脚掌完整着地，足弓明显消失。

这个方法操作简单，随时随地可以进行测试，但这种测量方式具有粗略性，没有那么的精确，也比较难以真正的区分扁平足的严重程度。

2、目视检测方法。

双脚自然站立，然后从后方观察足跟。

看脚踝的内侧是否存在异常凸起，如果有，则可能是扁平足。

因为大部分的扁平足，都会伴随着足跟外翻。

这种方法，主要也是依靠经验判断，结果没有那么的准确，甚至可能存在误判的风险。

3、通过脚型三维扫描仪进行测量。

脚型三维扫描仪，主要采用的是激光的光学原理来对足部进行检测测量。

获取的是足部三维形态数据，包含脚长、脚宽、足弓高度、足底面积、后跟角度等数据。

人站到设备的扫描区域，只需要20秒左右，就可以完成测量，不仅生产三维数据，还生成对应的测量报告，通过测量报告就可以看出脚型的评估结果，包括是否存在扁平足、高足弓、足跟内翻、足跟外翻等。

通常脚型三维扫描仪评测扁平足的方法有两个：

一是通过计算足弓高度指数AHI来判断。AHI=足弓最高点高度 ÷ 足总长，当AHI值为0.175～0.21 正常；0.155～0.175 属于轻度扁平足；＜0.155 则是中重度扁平足。

二是通过足弓面积指数AI来进行判断。AI=中足接触面积 ÷ 全足底接触面积，当AI值>0.26，则判断为扁平足。

通过脚型扫描，有精确的数据进行分析判断，评测的结果比较准确，而且花的时间也很短，并且能够更全面的了解足部的健康情况。

此外，测量获取的stl等三维数据，也可应用在矫正鞋垫、矫正鞋的制作，辅助对扁平足、高足弓等足部畸形的矫正。